所在位置:首页 >> 全部分类>> 涂层检测>> 干膜厚度>> 数字式涂层测厚仪

德国EPK MiniTest1100/2100/3100/4100涂层测厚仪

型号：MiniTest3100
品牌：德国EPK
产品简述：
德国EPK MiniTest1100/2100/3100/4100涂层测厚仪用于测量以下覆层（覆层包括涂层，镀层等）：

• 钢铁基体上的非磁性覆层
• 有色金属上的绝缘覆层
• 绝缘基体上的有色金属覆层

产品名称：德国EPK MiniTest1100/2100/3100/4100涂层测厚仪
产品型号：德国EPK MiniTest1100/2100/3100/4100涂层测厚仪

产品介绍
规格参数
订购信息

主机功能

型号	1100	2100	3100	4100
MINITEST 存储的数据量
应用行数(根据不同探头或测试条件而记忆的校准基础数据数)	1	1	10	99
每个应用行下的组(BATCH)数(对组内数据自动统计，可设宽容度极限值)	-	1	10	99
可用各自的日期和时间标识特性的组数	-	1	500	500
数据总量	1	10000	10000	10000
MINITEST统计计算功能
读数的六种统计值x,s,n,max,min,kvar	-	√	√	√
读数的八种统计值x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk	-	-	√	√
组统计值六种x,s,n,max,min,kvar	-	-	√	√
组统计值八种x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk	-	-	√	√
存储显示每一个应用行下的所有组内数据	-	-	-	√
分组打印以上显示和存储的数据和统计值	-	-	√	√
显示并打印测量值、打印的日期和时间	-	√	√	√
其他功能
透过涂层进行校准(CTC)	-	√	√	√
在粗糙表面上作平均零校准	√	√	√	√
利用计算机进行基础校准	√	√	√	√
补偿一个常数(Offset)	-	-	√	√
外设的读值传输存储功能	-	√	√	√
保护并锁定校准设置	√	√	√	√
更换电池是存储数值	√	√	√	√
设置极限值	-	-	√	√
公英制转换	√	√	√	√
连续测量模式快速测量，通过模拟柱识别最大最小值	-	-	√	√
连续测量模式中测量稳定后显示读数	-	-	√	√
浮点和定点方式数据传送	√	√	√	√
组内单值延迟显示	-	√	√	√
连续测量模式中显示最小值	√	√	√	√

可选探头参数
所有探头都可配合任一主机使用。在选择最适用的探头时需要考虑覆层厚度，基体材料以及基体的形状、厚度、大小、几何尺寸等因素。
F型探头：测量钢铁基体上的非磁性覆层
N型探头：测量有色金属基体上的绝缘覆层
FN两用探头：同时具备F型和N性探头的功能

探头	量程	低端分辨率	误差	最小曲率半径(凸/凹)	最小测量区域直径	最小基体厚度	探头尺寸
F05	0-500μm	0.1μm	±(1%+0.7μm)	1/5mm	3mm	0.2mm	φ15x62mm
F1.6	0-1600μm	0.1μm	±(1%+1μm)	1.5/10mm	5mm	0.5mm	φ15x62mm
F1.6/90	0-1600μm	0.1μm	±(1%+1μm)	平面/6mm	5mm	0.5mm	φ8x170mm
F3	0-3000μm	0.2μm	±(1%+1μm)	1.5/10mm	5mm	0.5mm	φ15x62mm
F10	0-10mm	5μm	±(1%+10μm)	5/16mm	20mm	1mm	φ25x46mm
F20	0-20mm	10μm	±(1%+10μm)	10/30mm	40mm	2mm	φ40x66mm
F50	0-50mm	10μm	±(3%+50μm)	50/200mm	300mm	2mm	φ45x70mm
N02	0-200μm	0.1μm	±(1%+0.5μm)	1/10mm	2mm	50μm	φ16x70mm
N.08Cr	0-80μm	0.1μm	±(1%+1μm)	2.5mm	2mm	100μm	φ15x62mm
N1.6	0-1600μm	0.1μm	±(1%+1μm)	1.5/10mm	2mm	50μm	φ15x62mm
N1.6/90	0-1600μm	0.1μm	±(1%+1μm)	平面/10mm	5mm	50μm	φ13x170mm
N10	0-10mm	10μm	±(1%+25μm)	25/100mm	50mm	50μm	φ60x50mm
N20	0-20mm	10μm	±(1%+50μm)	25/100mm	70mm	50μm	φ65x75mm
N100	0-100mm	100μm	±(1%+0.3mm)	100mm/平面	200mm	50μm	φ126x155mm
CN02	10-200μm	0.2μm	±(1%+1μm)	平面	7mm	无限制	φ17x80mm
FN1.6	0-1600μm	0.1μm	±(1%+1μm)	1.5/10mm	5mm	F：0.5mm N：50μm	φ15x62mm
FN1.6P	0-1600μm	0.1μm	±(1%+1μm)	平面	30mm	F：0.5mm N：50μm	φ21x89mm
FN2	0-2000μm	0.2μm	±(1%+1μm)	1.5/10mm	5mm	F：0.5mm N：50μm	φ15x62mm

注：	F1.6/90、F2/90、N1.6/90、N2/90为直角探头，用于管内测量。 N.08Cr适合铜上铬，FN2也适合铜上铬。 CN02用于绝缘体上的有色金属覆层。

联系我们

电话：400-888-5016

传真：021-33250912
地址：上海市嘉定区平城路1055号创新创业大厦17楼

Email：yp1718@163.com

工作时间：

周一至周五 9:00- 17:00

非工作时间请联系：13641663629

德国EPK MiniTest1100/2100/3100/4100涂层测厚仪

型号：MiniTest3100

品牌：德国EPK

产品详情

德国EPK MiniTest1100/2100/3100/4100涂层测厚仪用于测量以下覆层（覆层包括涂层，镀层等）：

• 钢铁基体上的非磁性覆层
• 有色金属上的绝缘覆层
• 绝缘基体上的有色金属覆层

产品介绍
规格参数
订购信息

德国EPK(Elektrophysik)公司MiniTest1100/2100/3100/4100涂镀层测厚仪特点：
MiniTest1100/2100/3100/4100包括四种不同的主机，各自具有不同的数据处理功能；
- 所有型号均可配所有探头
- 可通过RS232接口连接MiniPrint打印机和计算机
- 可使用一片或二片标准箔校准

主机功能

型号	1100	2100	3100	4100
MINITEST 存储的数据量
应用行数(根据不同探头或测试条件而记忆的校准基础数据数)	1	1	10	99
每个应用行下的组(BATCH)数(对组内数据自动统计，可设宽容度极限值)	-	1	10	99
可用各自的日期和时间标识特性的组数	-	1	500	500
数据总量	1	10000	10000	10000
MINITEST统计计算功能
读数的六种统计值x,s,n,max,min,kvar	-	√	√	√
读数的八种统计值x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk	-	-	√	√
组统计值六种x,s,n,max,min,kvar	-	-	√	√
组统计值八种x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk	-	-	√	√
存储显示每一个应用行下的所有组内数据	-	-	-	√
分组打印以上显示和存储的数据和统计值	-	-	√	√
显示并打印测量值、打印的日期和时间	-	√	√	√
其他功能
透过涂层进行校准(CTC)	-	√	√	√
在粗糙表面上作平均零校准	√	√	√	√
利用计算机进行基础校准	√	√	√	√
补偿一个常数(Offset)	-	-	√	√
外设的读值传输存储功能	-	√	√	√
保护并锁定校准设置	√	√	√	√
更换电池是存储数值	√	√	√	√
设置极限值	-	-	√	√
公英制转换	√	√	√	√
连续测量模式快速测量，通过模拟柱识别最大最小值	-	-	√	√
连续测量模式中测量稳定后显示读数	-	-	√	√
浮点和定点方式数据传送	√	√	√	√
组内单值延迟显示	-	√	√	√
连续测量模式中显示最小值	√	√	√	√

探头	量程	低端分辨率	误差	最小曲率半径(凸/凹)	最小测量区域直径	最小基体厚度	探头尺寸
F05	0-500μm	0.1μm	±(1%+0.7μm)	1/5mm	3mm	0.2mm	φ15x62mm
F1.6	0-1600μm	0.1μm	±(1%+1μm)	1.5/10mm	5mm	0.5mm	φ15x62mm
F1.6/90	0-1600μm	0.1μm	±(1%+1μm)	平面/6mm	5mm	0.5mm	φ8x170mm
F3	0-3000μm	0.2μm	±(1%+1μm)	1.5/10mm	5mm	0.5mm	φ15x62mm
F10	0-10mm	5μm	±(1%+10μm)	5/16mm	20mm	1mm	φ25x46mm
F20	0-20mm	10μm	±(1%+10μm)	10/30mm	40mm	2mm	φ40x66mm
F50	0-50mm	10μm	±(3%+50μm)	50/200mm	300mm	2mm	φ45x70mm
N02	0-200μm	0.1μm	±(1%+0.5μm)	1/10mm	2mm	50μm	φ16x70mm
N.08Cr	0-80μm	0.1μm	±(1%+1μm)	2.5mm	2mm	100μm	φ15x62mm
N1.6	0-1600μm	0.1μm	±(1%+1μm)	1.5/10mm	2mm	50μm	φ15x62mm
N1.6/90	0-1600μm	0.1μm	±(1%+1μm)	平面/10mm	5mm	50μm	φ13x170mm
N10	0-10mm	10μm	±(1%+25μm)	25/100mm	50mm	50μm	φ60x50mm
N20	0-20mm	10μm	±(1%+50μm)	25/100mm	70mm	50μm	φ65x75mm
N100	0-100mm	100μm	±(1%+0.3mm)	100mm/平面	200mm	50μm	φ126x155mm
CN02	10-200μm	0.2μm	±(1%+1μm)	平面	7mm	无限制	φ17x80mm
FN1.6	0-1600μm	0.1μm	±(1%+1μm)	1.5/10mm	5mm	F：0.5mm N：50μm	φ15x62mm
FN1.6P	0-1600μm	0.1μm	±(1%+1μm)	平面	30mm	F：0.5mm N：50μm	φ21x89mm
FN2	0-2000μm	0.2μm	±(1%+1μm)	1.5/10mm	5mm	F：0.5mm N：50μm	φ15x62mm

注：	F1.6/90、F2/90、N1.6/90、N2/90为直角探头，用于管内测量。 N.08Cr适合铜上铬，FN2也适合铜上铬。 CN02用于绝缘体上的有色金属覆层。